波长色散X荧光分析仪WDX200系统主要由样品制备设备（包括振动磨、压片机）、X荧光分析仪、计算机系统（主要包括主机、监视器、打印机、键盘、X荧光分析仪数据通讯接口、DCS系统通讯接口）等，与其他相关设备配合构成X荧光分析仪生料质量控制系统。Ｘ荧光分析仪主要用于生料化学成分的分析，以实现原料配比的在线自动化控制，保证入窑生料率值的标准偏差达到规定指标；同时，X荧光分析仪也可用于各种原料、耐火材料、燃料、熟料、水泥的离线分析。
设备技术参数
波长色散X荧光分析仪WDX200主机：采用同时式波长色散型光谱仪；可装载10个以上（含10个）分析通道用于多元素同时测定，元素分析范围为钠到铀，元素预设范围为水泥10大元素Ca、Fe、Si、Al、Na、Mg、S、K、Cl-、P，分析速度小于2分钟。输入电源为单相220/240VAC，并由主机向PC机和打印机供电。
分析软件
--分析数据处理，线性拟合，各种基体校正；
--在分析值的基础上进行特性率值的计算；
--人机对话，各种参数的设定和修改；鼠标及键盘操作；
--分析数据和输出；
--完善的自诊断措施；
控制软件
--对生料入窑要求率值的偏差值计算；
--下一周期原料比的计算；
--按分析计算的原料配比结果在线控制电子喂料皮带秤，电子喂料皮带秤可用计算机自动调整，也可由操作人员按显示的分析人工设定；
--控制系统的计算机与全厂计算机控制系统网络通讯，由卖方和买方共同协商；
--人机对话，鼠标及键盘操作；
--具有各种，产量的记录和显示，打印输出功能；
波长色散X荧光分析仪WDX200性能优势
准直器技术:分光准直器采用自主研发的技术，属国际。
多路多道谱仪的全谱采集:WDX型X荧光分析仪在X荧光分光系统设计、多路多道谱仪的全谱采集和检测技术等方面均具有性，有效地提高了仪器的计数率和稳定性；同时，该技术的采用，使每位操作人员都可以简单直观的判断仪器的工作状态，有效防止不可靠分析数据的产生。属国际。
超短光路: 在同样的测量下，采用固定分光道，可以使用小功率Ｘ光管，免除了大功率Ｘ光管复杂的冷却系统，提高了仪器的可靠性，WDX系列X荧光分析仪在吸收国际先进技术的基础上，超短光路，减小了X光管的功率，延长X光管的使用寿命，简化了冷却系统的结构。大幅度降低了维护维修成本。属国际。
故障自动检测装置:先进的故障自动检测装置，可以实时监控仪器参数，并自动报警！属国际。
安全有效的自动保护装置:安全保护：冷却系统和电路系统完全由底层工业级PC104系统控制，有效保护X光管。
全中文软件：操作简单对操作人员无特殊要求；避免操作人员英语差而导致误操作。（国外仪器的汉化软件功能不兼容，有死机现象，故一般都使用英文版本，对操作人员要求很高）
关键部件：X光管选用世界一流生产商美国VARIAN；分光晶体采用TAP、PET、InSb、Ge、LiF等平弯结合配置，保证了各元素的测量对于Na、Mg元素选用档的多层膜晶体，有效防止晶体受潮。
操作和通讯系统:WINDOWS XP中文操作系统；光谱仪全面自动化控制的操作系统视窗软件；包含有应用于在线远距离仪器诊断服务所需要的硬件和软件；计算机应包含两个通讯接口（RS232、RS485）；一个用于光谱仪的控制，一个用于与生料控制系统的通讯，能与世界流行生料控制系统通讯（例如：史密斯、OSCA等）X射线荧光分析仪的通讯接口与DCS系统的通讯接口(RS485协议和PROFIBUSDP)等，并终无条件满足总承包商DCS或者QCX控制系统接口的要求。自主研发的Ｘ荧光分析仪软件系统，使ＢＸ型荧光分析仪可以作为OPC SERVER与OPC构架的DCS系统或QCX系统实现无缝连接；也可配置为QCX服务器。
操作系统：允许用户使用键盘或鼠标简单地进行日常分析工作，同时它是功能强大的、操作便捷的操作系统；包含分析条件预编程技术，允许用户制定各种预编程条件，丰富、强大、灵活的分析管理功能；用户自定义分级密码；在线标准化功能，产品质量自动判定功能；包含多种分析结果输出格式模板，脱机计算功能，质量控制系数计算功能等（如石灰石包含系数、硅比率、铝比率等水泥模量的计算）。
流气密度稳定调节系统: 流气密度稳定调节系统改被动调节为主动调节，显著地提高了控制，提高了峰位及元素含量检测的稳定性与重复性；(该技术已申请国家)
荧光信号采集卡：改进了荧光信号采集卡性能，提高了峰位判定、峰位漂移校正的可靠性和有效性，改进了光路机械结构设计，保证了仪器的长期可靠运行。
漂移校正：增加了校验样校正仪器长期漂移的方法，无需修正工作曲线即可简单可靠地校正仪器；固定分光道不需要复杂的测角系统，不需要定期对分光光路进行校准，使得仪器的操作更加简单，降低对仪器操作人员的技术要求。属国际。
测量准确度及度检验：使用国家水泥荧光标样标定仪器后，用经过国家水泥质量监督检验中心定量的样品进行测量准确度的检验。测量准确度检验符合GB/T176-1996《水泥化学分析方法》和GB/T19140-2003《水泥X射线荧光分析通则》中规定的同一实验室的测量允许差；使用其中的一个标样进行度检验（24小时连续测量），检验仪器的测量度。各个成分的度指标达到出厂控制指标。
开机重现性检验：停机不少于8小时后开机，预热4小时后，经过漂移校正，用国家标样检验仪器的测量重现性。测量重现性符合GB/T176-1996《水泥化学分析方法》和GB/T19140-2003《水泥X射线荧光分析通则》中规定的同一实验室的测量允许差
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