便携式镀层检测仪

便携式镀层测厚仪原理

便携式镀层测厚仪采用XRF光谱法，该方法有如下有点

(1)  X射线荧光法（XRF）：能量X荧光光谱侧厚法(质量膜厚)

测试原理：XRF测厚是通过X射线激发各种物质的特征X射线，然后测量这被释放出来的特征X射线的能量对样品进行进行定性，测量这被释放出来的特征X射线的强度与标准片（或者对比样）对比得出各物质的厚度，这种强度和厚度的对应关系在软件后台形成曲线。而各种物质的强度增加，厚度值也增加，但不是直线关系；通过标样和软件及算法（算法有FP法和经验系数法）得到一个接近实际对应关系的曲线。

便携式镀层检测仪应用领域

耐磨镀层 如镀Ni、镀Cr、镀Ni-W、Ni-Co、NiP合金

减摩镀层 如镀Sn、In、Sn-In合金

热加工镀层 如防渗碳镀Cu、防渗氮镀Sn

反光镀层 如镀Ag、光亮Ni等

防反光镀层 如镀黑Ni、镀黑Cr等

导电镀层 如镀Au、Ag、Sn、Cu等

磁镀层 如镀Ni-Fe合金、Ni-Co合金等

抗氧化镀层 如镀Cr、镀Pt-Rh合金

耐酸镀层 如镀Zn、Sn-Pb合金等